Visuel de Appliquer la maîtrise statistique des processus MSP/SPC
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Dans tous les secteurs industriels, la Maîtrise Statistique des Processus (MSP ou SPC) est une démarche incontournable pour garantir une grande qualité des produits à un coût minimal. Cette méthode est fondée sur deux approches fondamentales :

  • le suivi et le pilotage des processus industriels par cartes de contrôle
  • La mesure des capabilités (aptitudes) des systèmes de production

Cet ouvrage de référence couvre l'ensemble du domaine de la Maîtrise Statistique des Processus. Il est illustré de nombreux exemples tirés de l'expérience industrielle et universitaire de l'auteur. Il permet différents niveaux de lecture afin de satisfaire un large public. Le lecteur novice trouvera de quoi se familiariser avec l'univers de la MSP et de se préparer très efficacement pour les premières applications qu'il aura à mener dans sa vie professionnelle. Le lecteur chevronné trouvera tous les éléments lui permettant de mettre en oeuvre de façon efficace la MSP en milieu industriel.

Les premiers chapitres insistent sur les concepts essentiels de la MSP tels que l'objectif cible, le pilotage des procédés par carte de contrôle et la mesure des capabilités. Les chapitres suivants couvrent de manière très complète tous les aspects de l'application de la MSP en entreprise notamment les calculs des capabilités des moyens de contrôle, les calculs des cartes de contrôle, la conduite des études de capabilité, le suivi des caractéristiques non mesurables, les cartes EWMA et CUSUM, ainsi que les cas des critères non symétriques.

Cet ouvrage ne se contente pas d'aborder les cas classiques d'application de la MSP mais aborde plusieurs cas particuliers d'application tels que la MSP multidimentionnelle ou le cas des petites séries. Enfin, un chapitre aborde la MSP sous l'approche du tolérancement en proposant une nouvelle alternative : le tolérancement inertiel qui offre un meilleur compromis qualité/coût que les tolérancements traditionnels.

Cet ouvrage s'adresse :

  • aux professionnels cadres et techniciens de tous les secteurs industriels qui souhaitent acquérir ou approfondir des connaissances en matière de MSP
  • aux enseignants des lycées techniques et des universités pour la préparation de leur enseignement
  • aux étudiants des filières à caractère industriel post-baccalauréat
Titre Appliquer la maîtrise statistique des processus MSP/SPC
Auteur(s) Maurice Pillet
Collection(s) Livres outils
Editeur Editions d'Organisation
Parution 16 juin 2005
Edition 4e édition
Nb de pages 552 pages
Format 240 x 170 mm
Poids 1 g
EAN13 9782708133495
ISBN13 978-2-7081-3349-5
ISBN10 2-7081-3349-7
  • Avant-propos
  • Maîtrise statistique des processus et performance industrielle
  • Les concepts de la maîtrise statistique des processus (MSP)
  • Capabilité des processus de contrôle
  • Les études de capabilité (d'aptitude)
  • Les cartes de contrôle
  • Les cartes EWMA et CUSUM
  • Le cas des processus multidimensionnels
  • Le cas des attributs
  • Le cas des petites séries
  • Le cas des distributions non gaussiennes et des critères unilatéraux
  • Du tolérancement au pire des cas au tolérancement inertiel
  • Annexe : Statistiques de base
  • Tables et résumés
  • Bibliographie
  • Logiciels et sites internet
  • Index

Maurice Pillet

Maurice Pillet, professeur des universités, ancien élève de l'ENS Cachan. Directeur de Recherche au laboratoire LISTIC de l'université de Savoie, il pratique depuis de nombreuses années le conseil industriel dans le domaine de la MSP et des activités de formation des cadres et techniciens de l'industrie. Il enseigne au département OGP de l'IUT d'Annecy. Son ouvrage est constamment enrichi de cette double expérience d'universitaire...

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