Appliquer la maitrise statistique des procédés MSP/SPC

Dans tous les secteurs industriels, la Maîtrise Statistique des Procédés (MSP ou SPC) apporte une grande efficacité dans l'amélioration de la qualité des produits. Cette méthode est fondée sur deux approches fondamentales :

• le suivi et le pilotage des procédés industriels par cartes de contrôle,
• la mesure des capabilités (aptitudes) des systèmes de production.

Cet ouvrage fait référence dans le domaine de la maîtrise des procédés. Il est illustré de nombreux exemples. Le lecteur novice trouvera de quoi se familiariser avec l'univers de la MSP et de se préparer très efficacement pour les premières applications qu'il aura à mener dans sa vie professionnelle. Le lecteur chevronné trouvera tous les éléments lui permettant de mettre en oeuvre de façon efficace la MSP en milieu industriel.

Les premiers chapitres insistent sur les concepts essentiels de la MSP tels que l'objectif cible, le pilotage des procédés par carte de contrôle et la mesure des capabilités.

Les chapitres suivants couvrent de manière très complète tous les aspects de l'application de la MSP en entreprise notamment les calculs des capabilités des moyens de contrôle, la conduite des études de capabilité, le suivi des caractéristiques non mesurables, les cartes EWMA et CUSUM, ainsi que les cas des critères non symétriques.

Ce livre aborde plusieurs cas particuliers d'application : ceux des petites séries, des processus multi-générateurs tels que les presses à injecter et des processus gigognes. Il aborde enfin les aspects du tolérancement statistique et les liens entre le tolérancement et la MSP.

Cet ouvrage s'adresse :

• aux professionnels cadres et techniciens de tous les secteurs industriels qui souhaitent acquérir ou approfondir des connaissances en matière de MSP,
• aux enseignants des lycées techniques et des universités pour la préparation de leur enseignement,
• aux étudiants des filières à caractère industriel post-baccalauréat.

Au sommaire

• Chapitre 1 La MSP et l'objectif cible
• Chapitre 2 Les concepts de la Maîtrise Statistique des Procédés (MSP)
• Chapitre 3 Capabilité des moyens de contrôle
• Chapitre 4 Les études de capabilité (d'aptitude)
• Chapitre 5 Les cartes de contrôle
• Chapitre 6 Les cartes EWMA et CUSUM
• Chapitre 7 Le cas des attributs
• Chapitre 8 Le cas des petites séries
• Chapitre 9 Le cas des critères non symétriques
• Chapitre 10 Tolérancement statistique et SPC

• Annexe
• Statistiques de base
• Tables et résumés
• Bibliographie
• Index
• Site internet